Tổng quan sản phẩm KÍNH HIỂN VI ĐIỆN TỬ QUÉT MÔI TRƯỜNG SEM-QUANTA FEG 250 (ESEM)

Kính Hiển Vi Điện Tử Quét Môi Trường SEM-Quanta FEG 250 (ESEM)
SEM-Quanta FEG 250 (ESEM) là kính hiển vi điện tử quét môi trường thế hệ mới, chuyên dùng để chụp ảnh độ phân giải cao và phân tích thành phần mẫu vật bằng phổ tán xạ năng lượng tia X (EDS). Nhờ công nghệ phát xạ trường FEG kết hợp khả năng giảm tốc chùm tia điện tử, thiết bị đạt độ phân giải tới 1,4 nm ngay cả ở điện áp chỉ 1 kV, cho phép quan sát chi tiết bề mặt mà không gây hư hại.
Với ba chế độ áp suất (High Vacuum, Low Vacuum, ESEM) và áp suất tối đa 2600 Pa, Quanta FEG 250 có thể nghiên cứu mẫu sống, mẫu ướt hoặc mẫu không dẫn điện mà không cần phủ kim loại.
Thiết bị hỗ trợ Wet-STEM để kiểm soát nhiệt độ – độ ẩm khi quan sát, có thể gia nhiệt mẫu đến 1000°C, đồng thời phù hợp cho nhiều lĩnh vực từ khoa học sự sống, vật liệu đến công nghiệp chế tạo. Hãy cùng Vạn Năng tìm hiểu chi tiết hơn về sản phẩm thông qua bài viết dưới đây nhé!

Nét Đặc Trưng Của Sem-Quanta Feg-250
Độ phân giải cực cao

Nhờ công nghệ FEG và khả năng beam deceleration, kính hiển vi có thể đạt độ phân giải 1,4 nm, giúp tái hiện hình ảnh chi tiết ở cấp độ nano.
Hỗ trợ nghiên cứu bề mặt vật liệu mà không cần tăng áp quá cao, hạn chế tối đa hư hại mẫu.

Hoạt động trong nhiều điều kiện áp suất

Chế độ chân không cao (High Vacuum): phù hợp cho mẫu khô, dẫn điện tốt.
Chế độ chân không thấp (Low Vacuum): quan sát được cả mẫu không dẫn điện mà không cần xử lý phủ kim loại.
Chế độ ESEM (Environmental SEM): quan sát mẫu ướt, mẫu sinh học hoặc mẫu chứa khí, hơi nước trong điều kiện môi trường tự nhiên.

Khả năng quan sát mẫu sống và mẫu nhạy cảm

Không cần chuẩn bị mẫu phức tạp.
Giảm nguy cơ biến dạng bề mặt, đặc biệt với các mẫu sinh học hoặc mẫu polymer mềm.

Hệ thống phát hiện hình ảnh & phân tích
Quanta FEG-250 được trang bị nhiều loại đầu dò (detector) khác nhau, phục vụ đa dạng nhu cầu phân tích:

Hình ảnh điện tử thứ cấp (Secondary Electrons – Topography)

Sử dụng đầu dò ETD/FLD (Everhart-Thornley Detector / Large Field Detector).

Hiển thị chi tiết bề mặt mẫu với độ nét cao.

Hình ảnh điện tử tán xạ ngược (Backscattered Electrons – Composition)

Sử dụng đầu dò GAD/vCD (Gaseous Analytical Detector / Low Voltage High Contrast).
Cho phép phân tích sự tương phản thành phần vật liệu.

Hình ảnh điện tử thứ cấp từ pha khí

Sử dụng đầu dò GSED/GAD (Gaseous Secondary Electron Detector / Gaseous Analytical Detector).
Phù hợp với mẫu trong môi trường có khí hoặc hơi ẩm.

Phân tích thành phần hóa học nguyên tố

Ứng dụng Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS/EDX).
Xác định nguyên tố cấu thành mẫu và tỷ lệ phần trăm khối lượng.

Hình ảnh STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy)

Sử dụng đầu dò STEM chuyên dụng.
Cho phép quan sát cấu trúc bên trong mẫu mỏng.

Thí nghiệm in-situ (trực tiếp trong buồng kính)
Quanta FEG-250 không chỉ quan sát mà còn hỗ trợ thực hiện thí nghiệm ngay trong buồng kính hiển vi, bao gồm:

Gia nhiệt mẫu (Heating Stage)

Nhiệt độ lên đến 1000°C.
Quan sát trực tiếp sự thay đổi hình thái của mẫu khi nung.

Bệ Peltier (Peltier Stage)

Điều chỉnh áp suất, nhiệt độ, độ ẩm của buồng.
Quan sát biến đổi mẫu trong điều kiện khí hậu mô phỏng.

Wet-STEM và STEM khô

Quan sát mẫu trong môi trường ướt (Wet-STEM) hoặc mẫu đã sấy khô ở chế độ chân không cao.

Chuẩn bị mẫu và điều kiện quan sát

Chế độ chân không cao: Mẫu lỏng hoặc không dẫn điện cần được làm khô và phủ kim loại.
Chế độ chân không thấp / ESEM: Mẫu không cần xử lý trước, tiết kiệm thời gian chuẩn bị.
Kích thước mẫu:

Chân không cao & thấp: từ 0903 991 335 !